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非接触式膜厚仪

产品时间:2020-06-16

产品型号:EmiosAT-1500

厂商性质:生产厂家

简要描述:

非接触式膜厚仪设备操作简单,放置样品即可测量的。一步到位。非接触、高精度的测量不透明·粗糙面·易变形样品。

 非接触式光学膜厚仪

 

非接触式膜厚仪Eimos设备操作简单,放置样品即可测量的。一步到位。

缩短检查工程,无标准曲线,精度高,分辨率高,轻松测量样品的绝对厚度。

光学方式为大冢电子独有,不仅外形小巧,无论透明、粗糙还是易变形的样品,都可以实现非接触式的高精度测量。

 

非接触式膜厚仪特点:

  • 非接触式测量不透明、粗糙,易变形的样品
  • 反复性,再现性高
  • 无标准曲线也可知道绝对厚度
  • 测量径很小,不受斑点的影响
  • 样品位置无需调整,放进去即可。
  • 稳定性高,不会产生误差,所以谁都能操作。
  • 光学方式原理所以安全


式样

 AT-1500
厚度范围10μm~1.5mm
重复性0.1μ(2σ)以下(测量1nm的guage black)
样品尺寸

最小Φ10mm,最大100mm

(测量位置在中间部)

测量径约50μm
测量时间1秒以下
装置尺寸·重量

W300×D364×H400(mm)·20(kg)

(本体部:开发过程中可能发生变更)

电源                                AC100-220V/200V

 

构成图/原理

1)构成图

任何人都会使用大塚电子非接触式光学膜厚仪 Eimos进行测量

1STEP-01.jpg

1STEP-02.jpg

2)原理

将光分别照射样品上下部
测量距离基准面的距离。
d=dall-(d1+d2)
ncftm2_2.gif

比较测量方法

样品例子和测量方法的比较

 非接触光学膜厚仪接触式膜厚仪X线式膜厚仪変位計
样品凝胶片×
不织布××
金属板
树脂
多孔质×
陶瓷×
紙?木×
测量

测量时间○ 高速
非接触测量○ 非接触×
前处理○ 不要×

测量案例

ncftm4-1.gif

ncftm4-2.gif

ncftm4-3.gif

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