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非接触式测厚仪与接触式薄膜测厚仪之间的区别

  • 发布日期:2020-12-01      浏览次数:240
    •    非接触式测厚仪与接触式薄膜测厚仪之间的区别
        非接触式测厚仪有X射线测厚仪、Y射线测厚仪(主要有锯和钝两种)、超声波、红外线和激光测厚仪。前两种为放射线测厚仪,它们是根据一定能量的射线穿过钢板时,射线衰减强度与钢板厚度有一定关系的原理做成的。
        射线由射线源发出后、一般由下而上经钢板吸收一部分,剩下的被检测器接受。当被测空间无钢板时.使用已知厚度的基准板校正。测厚仪有接触式和非接触式两种。
        接触式测厚仅测量周期长,测量精度较低,测量范围宽,用于低速、冷轧条件下轧件厚度测量。非接触式薄膜测厚仪由于具有反应速度快、测量精度高、可实现连续检测、易于与计算机联网、易于实现厚度自动控制等特点而得到广泛应用。
        非接触式测厚仪与接触式薄膜测厚仪之间到底有何区别呢?
        1、应用范围不同
        接触式薄膜测厚仪在使用中主要是针对在符合量程范围以内的薄膜、隔膜以及纸张等非金属材料实现厚度测量;而非接触式薄膜测厚仪除了对非金属材料实现厚度测量以外,同时还可以对金属箔片实现测量。
        2、测量原理不同
        接触式薄膜测厚仪在使用中通过自动和手动的相互协助实现有效地控制,利用配置标准量块起到的作用,确保测试数据的一致性。非接触式测厚仪在其使用中,主要是利用激光传感器实现厚度测量,将被测物放在两个激光传感器的中间,为避免测试过程中出现晃动,需要将传感器固定在支架上,另外未确保测量数据的准确性,还需要检查传感器发出的激光是否对准同一个点,确认检查无误之后,便可以采样检查。
     
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