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怎样正确使用干渉式膜厚仪

  • 发布日期:2020-09-01      浏览次数:68
    •    怎样正确使用干渉式膜厚仪
        干渉式膜厚仪常用到的方法是探针法,它通常是测量不透明薄膜(例如金属)的方法。光学法是通过测量光与薄膜如何相互作用来检测薄膜的特性。光学法可以测量薄膜的厚度、粗糙度及光学参量。光学参量是用来描述光如何通过一种物质进行传播和反射的。
        在现代科学技术中,薄膜已有广泛的应用。薄膜厚度是薄膜性能参数的重要指标,薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。目前,两类主要的薄膜测量是基于光学和探针的方法。探针法测量厚度及粗糙度是通过监测精细探针划过薄膜表面时的偏移。探针法在测量速度和精度上受限,并且测量厚度时需要在薄膜里作一个“台阶”。
        干渉式膜厚仪的正确使用步骤如下:
        测定准备
        (1)确保电池正负极方向正确无误后设定。
        (2)探头的选择和设定:在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象,在本体上进行设定。
        测定方法
        (1)探头的选择和安装方法:确认电源处于OFF状态,与测定对象的质地材质接触,安装LEP-J或LHP-J。
        (2)调整:确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。
        (3)测定:在探头的末端加一定的负荷,即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分,迅速在与测定面成垂直的角度按下。下述的测定,每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时,如果采用探头适配器,可以更加稳定地进行测定。
        干渉式膜厚仪可以无损伤、快速、精密地测量涂、镀层厚度。广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料表面处理工程必备仪器。可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。
     
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