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关于薄膜测厚仪,三分钟您就懂

  • 发布日期:2020-12-24      浏览次数:215
    •    关于薄膜测厚仪,三分钟您就懂
        薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。本产品的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。
        使用两个激光传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。
        薄膜测厚仪的技术特点有哪些呢?想知道的赶紧来看看吧。
        1、严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制;
        2、测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差;
        3、支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择;
        4、实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断;
        5、配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性;
        6、系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果;
        7、系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看;
        8、标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输;
        9、薄膜测厚仪支持Lystem实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告;
     
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