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不了解干渉式膜厚仪的赶紧看着这里了!

  • 发布日期:2020-06-19      浏览次数:162
    •    不了解干渉式膜厚仪的赶紧看着这里了!
        干渉式膜厚仪采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。
        在膜厚测量电路中,正弦振荡器IC1、IC2产生频率为1-100kHz的正弦波,加在变压器B1初级上,次级输出的正弦信号加到桥式电路的输入端,由该桥路在非平衡状态下获取金属材料表面的涡流变化;涡流变化量由检测放大器IC3进行适当放大,再经交流放大器IC4和IC5放大数十倍后,经转换电路将涡流变化量转换为膜厚,由指示仪表显示。
        干渉式膜厚仪的产品特点有哪些?
        1、该膜厚仪严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
        2、测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
        3、支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
        4、实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据
        5、配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
        6、支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能
        7、微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板
        干渉式膜厚仪主要用于测量尖端设备的生产中不可或缺的极薄膜、多层膜乃至半导体晶圆的硅胶基板厚度,膜厚仪可满足用户各种各样的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。
     
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