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OLED系列测试解决方案

  • 发布日期:2020-05-21      浏览次数:242
    • 有机电致发光器件(OLED)研发与制造工程包括机小分子材料开发、真空蒸镀、封装、屏测试等多道工序。在OLED的研究材料开发以及品质管理中,大塚电子研发出一系列解决各种问题的测量技术和测量装置。

      1.有机小分子材料开发

      构成有机电致发光器件的材料包括电极材料(征集材料和负极材料)、发光材料、载流子传输材料(电子传输材料和空穴传输材料)。有机发光材料为有机电致发光器件的核心材料,理想的有机电致发光材料在性能上具有量子效率高、载流子传输能力强、易于成膜、对光和热稳定性好、具备适宜的分子能级。其中量子效率作为有机发光材料的关键指标之一,量子效率测定在有机发光材料的研发阶段显得尤为重要。大塚电子的QE-2000和QE-2100量子效率测量系统可以在短时间内完成粉末、液体、薄膜材料的外量子效率、内量子效率、吸收率、透过率、反射率、发光光谱、激发光谱、色演算等指标的测量及解析。

      QE-2000

      QE-2100

      产品特征

      • 可瞬间测量絶対PL量子効率

      • 去除再激发荧光発光功能,实现高精度測定

      • 采用積分半球单元,实现了更高亮度的光学系

      • 可以选配温控機能(QE-2100)

      • Sialon标准荧光体的校正,作为性能的保証

       

      2.真空蒸镀

      有机小分子薄膜可通过真空热蒸镀形成,真空蒸镀过程需要对膜厚进行监测。大塚电子的MCPD膜厚测量系统可以对真空腔体内的样品膜厚进行监测。MCPD膜厚测量系统具有以下特点:

      • 高速、高感度的光谱测量

      • 使用真空光纤,可以测量腔体内各种样品

      • 使用光纤切换机,实现多点的测量检测

      实测实例一:产线膜厚监控

      实测实例2:in-situ吸光度监测

      • 蒸着工程的in-situ測量

      • 通过吸光度和检量线可以计算出膜厚

      • 从偏光角进入的p入射偏光,可以在不受多重干涉的影响情况下实现测量吸光度

      监测时间变化的吸光度

      3.屏测试

      OLED产品封装完成后要对其进行一系列测试,大塚电子提供整套光学评价与检测方案。

      一、光通量测量装置(外部量子効率测量装置)

      产品特点:

      • 外部量子効率測量

      • 采用积分半球实现更明亮的光学系

      • 样品発光部分以外在积分空间外,消除了吸收误差

      • 可以样品光源自身影子的影响,尤其适合用于大型面板的测量

      二、OLED光学特性評価装置

      产品特点:

      • 与电源连动,可测量放射亮度

      • 亮度测量范围广

      • 多彩的测定评价项目多彩な測定評価項目

     
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